发明名称 메모리소자 모듈기판 검사용 지그
摘要 <p>1. 청구범위에 기재된 고안이 속한 기술분야 모듈기판의 특성분석을 위한 지그 2. 고안이 해결하고자 하는 기술적 과제 본 고안은 각종 타입의 메모리 소자를 모듈기판의 한 패드안에 실장할 수 있도록 하고 입력 신호를 조절하므로서 메모리 소자의 개발시에 맞춰 모듈특성을 분석할 수 있도록 한 메모리소자 모듈기판 검사용 지그를 제공함에 그 목적이 있다. 3. 고안의 해결방법의 요지 본 고안은, 다양한 크기를 가지는 메모리 소자가 실장되도록 소정 구간마다 소자몸체 지지부가 형성되고, 상기 지지부의 양측으로 소자 접속핀홀이 형성된 소자실장수단; 상기 소자실장수단을 지지하며, 그 일단부에 상기 소자실장수단에 실장된 메모리 소자와 상호신호의 접속이 이루어지도록 다수의 접촉부가 형성된 모듈기판; 및 상기 모듈기판의 접촉부와 소자실장수단의 접속핀홀을 연결하는 수단을 포함하는 메모리소자 모듈기판 검사용 지그를 제공한다. 4. 고안의 중요한 용도 소자개발초기에 맞춰 모듈기판의 특성을 파악하므로써 기판설계에 활용할 수 있도록 한 것임.</p>
申请公布号 KR19980049185(U) 申请公布日期 1998.10.07
申请号 KR19960062350U 申请日期 1996.12.30
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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