发明名称 Verfahren zum Testen einer Schaltungsanordnung
摘要
申请公布号 DE19713570(C2) 申请公布日期 1999.08.26
申请号 DE19971013570 申请日期 1997.04.02
申请人 TEMIC SEMICONDUCTOR GMBH 发明人 BUERGER, INGO;EDLER, GERD;WIRTH, JENS
分类号 H02J7/02;(IPC1-7):G01R31/318;G01R31/36;H02J7/00 主分类号 H02J7/02
代理机构 代理人
主权项
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