发明名称 Verfahren und Einrichtung für Messungen an mehreren Lichtwellenleitern
摘要
申请公布号 DE59307929(D1) 申请公布日期 1998.02.12
申请号 DE19935007929 申请日期 1993.10.06
申请人 SIEMENS AG, 80333 MUENCHEN, DE 发明人 RUEGENBERG, GERVIN, D-81377 MUENCHEN, DE;KOSSAT, RAINER, D-83229 ASCHAU, DE
分类号 G01M11/00;(IPC1-7):G01M11/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项
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