发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTION APPARATUS
摘要
申请公布号 JPH09270446(A) 申请公布日期 1997.10.14
申请号 JP19960077802 申请日期 1996.03.29
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 TOKUBO YASUNORI
分类号 G01R31/26;G01R1/06;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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