发明名称 SEMICONDUCTOR TEST EQUIPMENT
摘要
申请公布号 JPH0777558(A) 申请公布日期 1995.03.20
申请号 JP19930179830 申请日期 1993.06.25
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 KUMAKI TOKUO
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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