发明名称 METHOD FOR CREATING TEST PATTERN FOR HIGHLY EFFICIENT FAILURE DETECTION
摘要
申请公布号 JPH0755895(A) 申请公布日期 1995.03.03
申请号 JP19930198203 申请日期 1993.08.10
申请人 FUJITSU LTD 发明人 DEGUCHI CHIKAHIRO
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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