| 发明名称 |
DEVICE FOR DETERMINING PARAMETERS OF STATES LOCALIZED IN SEMICONDUCTOR STRUCTURES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU1812530(C) |
申请公布日期 |
1993.04.30 |
| 申请号 |
SU19904873426 |
申请日期 |
1990.09.03 |
| 申请人 |
VORONEZHSKIJ TEKHNOLOGICHESKIJ INSTITUT |
发明人 |
LINNIK VYACHESLAV D;STRILETS MIKHAIL M;TITOV SERGEJ A |
| 分类号 |
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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