发明名称 METHOD AND DEVICE FOR PATTERN DEFECT DETECTION
摘要
申请公布号 JPH03279848(A) 申请公布日期 1991.12.11
申请号 JP19900081626 申请日期 1990.03.29
申请人 JII TEII SHII:KK 发明人 MORI YUJI;MIKAMI YOSHIAKI
分类号 G01N21/88;G01N21/956;G02F1/13;G06T1/00;G06T7/00;H05K3/00 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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