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发明名称
Method and apparatus for non-contact opens/shorts testing of electrical circuits
摘要
申请公布号
US4970461(A)
申请公布日期
1990.11.13
申请号
US19890371589
申请日期
1989.06.26
申请人
LEPAGE, ANDREW J.
发明人
LEPAGE, ANDREW J.
分类号
G01R31/02;G01R31/302;G01R31/308
主分类号
G01R31/02
代理机构
代理人
主权项
地址
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