| 发明名称 |
PROCEDIMENTO PER LA CARATTERIZZAZIONE DI LASER A SEMICONDUTTORE RISTABILI |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
IT1219324(B) |
申请公布日期 |
1990.05.03 |
| 申请号 |
IT19880067475 |
申请日期 |
1988.05.24 |
| 申请人 |
CSELT CENTRO STUDI E LABORATORI TELECOMUNICAZIONI SPA |
发明人 |
CALVANI RICCARDO;CAPONI RENATO |
| 分类号 |
G01R31/26;G02F3/02;H01S5/00;H01S5/042;H01S5/06;H01S5/50;(IPC1-7):H01L/ |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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