发明名称 |
微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法及系统 |
摘要 |
一种微波吸收材料的复介电常数ε和复导磁率μ的测试方法和系统。用微波干涉方法,定标技术和比对测量的方法,得到散射系数S11和S21。该系统包括微波信号单元,能进行四种不同测量转换的放样品装置和S参数测量单元。后者由衰减器,驻波测量线,隔离器,功率传感器和指示器组成。本系统建立容易,操作简单,价格低。其测量精度不低于用微波矢量网络分析仪所获得的结果。 |
申请公布号 |
CN1004173B |
申请公布日期 |
1989.05.10 |
申请号 |
CN87107345.5 |
申请日期 |
1987.12.07 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
倪尔湖;施铁矛;张志鸣;沈建华 |
分类号 |
G01R27/04;G01R27/26;G01R33/12;G01N22/00 |
主分类号 |
G01R27/04 |
代理机构 |
浙江大学专利代理事务所 |
代理人 |
张法高 |
主权项 |
1.一种微波吸收材料的复介电常数和复磁导率的测试方法为:测量待测样品的两个散射系数S11和S21,用下列公式计算该样品的材料复磁导率μ和复介电常数ε:测量S11和S21步骤为:a、测量待测样品的厚度1;b、测量微波信号的波长λ0;其特征在于还包括以下步骤:c、将上述微波信号分成两路,一路沿与待测样品厚度方向成小于90°角的方向向样品入射,另一路进行幅度衰减获得参考信号,再与样品上的反射信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得衰减量Ari和驻波节点的位置Pri;d、在与样品前平面同位置处装上短路板,将它的反射信号与参考信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得对反射定标的衰减量Aro和驻波节点的位置Pro;e、计算衰减量的变化Ar=Arl-ro和驻波节点的移动:Pr=Pro-Prl+nλ9/2<λ9/2,n=0,1,2……,其中,式中λc是截止波长,获得散射系统S11:f、将来自上述待测样品的透射信号与上述参考信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得衰减量Atl和驻波节点的位置Ptl:g、将无样品状态下的透射信号与上述参考信号进行干涉、比对,调节衰减量达到驻波节点的最小电平,测得对透射定标的衰减量Ato和驻波节点的位置Ptol:h、计算衰减量的变化At=Atl-Ato和驻波节点的移动:Pt=Ptl-P1o,获得散射系数S21: |
地址 |
浙江省杭州市玉泉 |