发明名称 |
一种含硼铜基厚膜导体 |
摘要 |
一种含硼铜基厚膜导体,包括使优先氧化材料B、Al、Zn同Cu合金化,使所得合金与Si、Ai、Ca、Mg、Na、K、Co、Pb、Zn的氧化物混合,加入有机载体以形成浆料,将浆料漏印到陶瓷基片上,并在560~850℃温度范围内和大气中烧成。所制得的厚膜导体具有良好的导电性、抗湿性和较低成本,最佳电阻率≤1.25×10-5Ω·cm,导体可用于微电路端接和多层布线。 |
申请公布号 |
CN87101846B |
申请公布日期 |
1988.06.29 |
申请号 |
CN87101846 |
申请日期 |
1987.03.07 |
申请人 |
中国有色金属工业总公司昆明贵金属研究所 |
发明人 |
谭富彬;赵玲 |
分类号 |
H01B1/02;H01L27/01;H05K3/10 |
主分类号 |
H01B1/02 |
代理机构 |
云南省专利事务所 |
代理人 |
何通培 |
主权项 |
1、一种含硼铜基厚膜导体,由金属粉末和玻璃料的混合物组成,所说的金属粉末和玻璃料在所说的混合物中的含量分别为85~97Wt.%和3~5Wt.%,所说的玻璃料的成分为(Wt.%):SiO<sub>2</sub>7.0~69.5,CaO0~6.0,BaO0~5.0,Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>0.5~3.0,MgO0~3.0,Na<sub>2</sub>O0~15.0,K<sub>2</sub>O0~4.0,Co<sub>2</sub>O<sub>3</sub>0~1.0,PbO0~82.5,ZnO0~7.0,本发明的特征是,所说的金属粉末是一种含硼的铜基合金粉末,其成分为(Wt.%):B2~15,Al0.1~0.8,Zn0.1~1.2,Cu余量。 |
地址 |
云南省昆明市85信箱 |