发明名称 TEST DEVICE FOR LOGIC CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS5513430(A) 申请公布日期 1980.01.30
申请号 JP19780084707 申请日期 1978.07.11
申请人 NIPPON ELECTRIC CO 发明人 TANAKA SADAAKI
分类号 G01R31/28;G01R31/319;G06F11/00;G06F11/22;H03K19/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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