SPOSOB POMIARU POZIOMYCH ODKSZTALCEN OBUDOWY SZYBU ORAZ UKLAD INSTRUMENTOW DO POMIARU POZIOMYCH ODKSZTALCEN OBUDOWY SZYBU,申请号PL19750182329-传众专利搜索

发明名称	SPOSOB POMIARU POZIOMYCH ODKSZTALCEN OBUDOWY SZYBU ORAZ UKLAD INSTRUMENTOW DO POMIARU POZIOMYCH ODKSZTALCEN OBUDOWY SZYBU
摘要
申请公布号	PL101352(B1)	申请公布日期	1978.12.30
申请号	PL19750182329	申请日期	1975.07.26
申请人		发明人
分类号	E21B47/00;(IPC1-7):E21B47/00	主分类号	E21B47/00
代理机构		代理人
主权项
地址

您可能感兴趣的专利