发明名称 温度測定システム及び異常検知方法
摘要 【課題】化学プラント、製油工場及び火力発電所等の施設で発生する異常を初期段階で検知できる温度測定システム及び異常検知方法を提供する。【解決手段】温度測定システムは、光ファイバ30と、温度分布測定装置31と、データ処理装置32とを有する。温度分布測定装置31は、光ファイバ30に光を入射して後方散乱光を検出し、その検出結果から光ファイバ30の長さ方向に沿った温度分布を取得する。データ処理装置32は、温度分布測定装置31で取得した温度分布を記憶するとともに、現在時点の温度分布と過去の温度分布との差分を演算して得た差分温度分布に対し信号処理を実施して、その結果から異常の有無を判定する。【選択図】図15
申请公布号 JPWO2014064845(A1) 申请公布日期 2016.09.05
申请号 JP20140543112 申请日期 2012.10.26
申请人 富士通株式会社 发明人 宇野 和史;武井 文雄;笠嶋 丈夫;只木 恭子;石鍋 稔
分类号 G01K11/32 主分类号 G01K11/32
代理机构 代理人
主权项
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