Interferometric system and method of measuring of refraction index spatial distrubution

摘要

Způsob měření prostorového rozložení indexu lomu je vhodný k využití v digitální holografické mikroskopii k pozorování vzorků v odraženém i procházejícím záření a k pozorování luminiscenčních vzorků. Interferometrický systém zahrnuje první větev (9.1) a druhou větev (9.2) s množstvím optických prvků. První větev (9.1) zahrnuje v rovině opticky sdružené s předmětovou rovinou (8.1) difrakční mřížku (7) pro vytvoření achromatického hologramu s prostorovou nosnou frekvencí ve výstupní obrazové rovině (8.2).