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Verfahren zum Detektieren eines Defekts, wobei das Verfahren Folgendes aufweist: Erhöhen einer Vorspannung (Vbias) eines ersten Kondensators (C0, Cp); Abtasten (310) eines Eingangssignals (Vin) einer ersten Platte des ersten Kondensators (C0, Cp) mit einer Zeitperiode; Subtrahieren (320) des abgetasteten Eingangssignal (VStrobe) von dem Eingangssignal (Vin); und Vergleichen (330) des subtrahierten Signals (Vin-VStrobe) mit einem Referenzsignal (Vref-p-Vref-n), wobei das Abtasten des Eingangssignals (Vin) das Abtasten des Eingangssignals (Vin) mit einer Abtastzeitperiode (Tstrobe) aufweist und wobei die Abtastzeitperiode (Tstrobe) kleiner ist als eine Defektzeitperiode (Tglitch), und wobei das Vergleichen des subtrahierten Signals (Vin-VStrobe) mit dem Referenzsignal (Vref-p-Vref-n) das Vergleichen mit einer Vergleichszeitperiode (Tcomp) aufweist und wobei die Vergleichszeitperiode (Tcomp) kleiner ist als die Abtastzeitperiode (Tstrobe). |
