用以辨识具有低速度效能之电路位置之测试电路

摘要

一种测试电路，用以找出低速度效能之位置。格状阵列包括复数环振荡器单元以及开关。开关系选择电性连接或隔离上述环振荡器单元，并根据测试电路于不同模式中中，由各行与列之环振荡器单元所输出之振荡信号频率找出电路中具有低速度效能之位置。