| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Verfolgung der Garnqualität in einem optischen Garnqualitätsabtaster mit Hilfe eines optischen Zeilensensors, der eine oder zwei Reihen der einzelnen optischen Elemente einer Rechteckform aufweist, die an ihrem Ausgang ein analoges Signal gewähren, das dem Grad deren Bestrahlung proportional ist. Die analogen Signale von allen einzelnen optischen Elementen, die durch eine Strahlungsquelle beleuchtet sind und durch das Garn nicht beschattet sind, werden in allen Regimes der Tätigkeit des optischen Qualitätsabtasters für jedes einzelne optische Element abgetastet und in einen elektronischen Speicher als Ausgangswerte, Betriebswerte oder Arbeitswerte (Fc1, Fc2, Fc3) der einzelnen optischen Elemente gespeichert, die nachfolgend, mit dem Ziel der Beurteilung der richtigen Funktion des Sensors und Eliminierung der Produktions- und Betriebsmängel und Produktions- und Betriebsstörungen, verglichen werden. Die Erfindung betrifft ebenso auch einen optischen Abtaster zur Durchführung des oben genannten Verfahrens, bei dem die elektronischen Speicher (1) und die ihnen zugeordneten Schaltkreise zur Eliminierung der Produktionstoleranzen und Betriebsstörungen und -mängel und Schaltkreise zur Berechnung der Breiten der Partialschatten für einzelne optische Elemente des Sensors des optischen Abtasters auf einem gemeinsamen Halbleitersubstrat gebildet sind, das in dem optischen Abtaster angeordnet ist. |
