发明名称 |
SOI射频开关结构及集成电路 |
摘要 |
一种SOI射频开关结构及集成电路。SOI射频开关结构包括:按照前一个MOS晶体管的源极连接至相邻的后一个MOS晶体管的漏极的方式依次并排布置的多个MOS晶体管,每个MOS晶体管的源极和漏极通过各自的第一电阻器连接,每个MOS晶体管的栅极通过各自的第二电阻器连接栅极电压;所述多个MOS晶体管中的第一个MOS晶体管的漏极连接至输入信号,所述多个MOS晶体管中的最后一个MOS晶体管的源极连接输出信号;多个MOS晶体管中的最前面的两个MOS晶体管中的每个MOS晶体管的体区分别通过各自的第三电阻器接地,而且多个MOS晶体管中除了最前面的两个MOS晶体管之外的每个MOS晶体管的体区通过各自的反向二极管T1连接至栅极,且该MOS晶体管的栅极连接至该反向二极管T1的输出端。 |
申请公布号 |
CN106230418A |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
申请号 |
CN201610596449.8 |
申请日期 |
2016.07.27 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
刘张李 |
分类号 |
H03K17/687(2006.01)I |
主分类号 |
H03K17/687(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
屈蘅 |
主权项 |
一种SOI射频开关结构,其特征在于包括:按照前一个MOS晶体管的源极连接至相邻的后一个MOS晶体管的漏极的方式依次并排布置的多个MOS晶体管,其中所述多个MOS晶体管中的每个MOS晶体管的源极和漏极通过各自的第一电阻器连接,所述多个MOS晶体管中的每个MOS晶体管的栅极通过各自的第二电阻器连接栅极电压;而且,所述多个MOS晶体管中的第一个MOS晶体管的漏极连接至输入信号,所述多个MOS晶体管中的最后一个MOS晶体管的源极连接输出信号;其中,多个MOS晶体管中的最前面的两个MOS晶体管中的每个MOS晶体管的体区分别通过各自的第三电阻器接地,而且多个MOS晶体管中除了最前面的两个MOS晶体管之外的每个MOS晶体管的体区通过各自的反向二极管T1连接至栅极,且该MOS晶体管的栅极连接至该反向二极管T1的输出端。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |