发明名称 Optoelektronische Struktur zur Detektion von elektromagnetischer Strahlung
摘要 Die vorliegende Erfindung stellt eine optoelektronische Struktur zur Detektion von mindestens einer elektromagnetischen Strahlung bereit, aufweisend: mindestens ein, für die jeweilige elektromagnetische Strahlung, transparentes und/oder transluzentes Substrat mit mindestens einer oberen und einer unteren Oberfläche, wobei die obere Oberfläche der unteren Oberfläche gegenüberliegt; wobei mindestens über einer der Oberflächen des Substrats mindestens ein Schichtenstapel in mindestens einem Bereich des Substrats derart aufgetragen ist, dass mittels zumindest eines ersten Faltens oder Falzens des Substrats entlang mindestens einer Faltlinie der Schichtenstapel zumindest teilweise von dem Substrat umschlossen ist und eine Struktur bildet; wobei sich entlang der Faltlinie ein gekrümmter Bereich im Substrat bildet; und wobei der Schichtenstapel folgende Schichten aufweist: mindestens eine erste Elektrodenschicht; mindestens eine erste elektrisch aktive Absorberschicht, wobei die Absorberschicht aus mindestens einer Schicht oder mehreren Schichten gebildet ist; und mindestens eine zweite Elektrodenschicht; wobei jeweils, zumindest teilweise, die elektrisch aktive Absorberschicht über der ersten Elektrodenschicht und die zweite Elektrodenschicht über der elektrisch aktiven Absorberschicht angeordnet ist; und wobei die Struktur dadurch gekennzeichnet ist, dass die Detektion der elektromagnetischen Strahlung derart erfolgt, dass die elektromagnetische Strahlung durch den gekrümmten Bereich des Substrats hindurch tritt und dann mittels der Absorberschicht detektiert wird.
申请公布号 DE102015006839(A1) 申请公布日期 2016.12.08
申请号 DE20151006839 申请日期 2015.06.02
申请人 Karlsruher Institut für Technologie 发明人 Gall, André;Hecht, Matthias;Kettlitz, Siegfried;Lemmer, Ulrich;Valouch, Sebastian;Mescher, Jan
分类号 H01L51/44 主分类号 H01L51/44
代理机构 代理人
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