发明名称 非挥发性内存单元及非挥发性内存矩阵
摘要 本发明公开了一种非挥发性内存单元的结构,包含一基板,具有一上表面,上表面上形成一沟渠结构,沟渠结构具有一空间,及定义空间的一侧墙及一底部。基板中设置一源极区及一漏极区,其中源极区位于沟渠结构之下。一穿隧介电层,形成于沟渠结构的侧墙与底部之上。一悬浮闸极区,形成于穿隧介电层的表面上,且悬浮闸极区的一部份位于沟渠结构的空间中。一控制闸极区,形成于悬浮闸极区的表面上,且控制闸极区与悬浮闸极区以一第二介电层相绝缘。本发明能够减轻闸极引发漏极漏电流效应,并对导通电流大小有良好的控制,更能进一步配合先进制程缩小内存单元的单位面积。
申请公布号 CN103794609B 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201210430816.9 申请日期 2012.11.01
申请人 北京芯盈速腾电子科技有限责任公司 发明人 范德慈;吕荣章;陈志民
分类号 H01L27/115(2006.01)I;H01L29/788(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;G11C16/04(2006.01)I 主分类号 H01L27/115(2006.01)I
代理机构 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人 刘淑敏
主权项 一种非挥发性内存单元,其特征在于,所述非挥发性内存单元包含:一基板,具有一上表面,所述上表面上形成一沟渠结构,所述沟渠结构具有一空间,及定义所述空间的一侧墙及一底部,且所述基板中设置一源极区及一漏极区;其中所述源极区位于所述沟渠结构之下;一第一介电层,形成于所述基板的所述上表面之上,且位于所述漏极区与所述沟渠结构的所述侧墙之间;一穿隧介电层,形成于所述沟渠结构的所述侧墙与所述底部之上;一选择闸极区,形成于所述第一介电层之上;一悬浮闸极区,形成于所述穿隧介电层的表面上,且所述悬浮闸极区的一部份位于所述沟渠结构的所述空间中;一第二介电层,形成于所述悬浮闸极区的表面上;以及一控制闸极区,形成于所述悬浮闸极区的表面上,且所述控制闸极区与所述悬浮闸极区以所述第二介电层相绝缘。
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