发明名称 一种栅控垂直双扩散金属‑氧化物半导体场效应晶体管
摘要 本发明公开了一种栅控垂直双扩散金属‑氧化物半导体场效应晶体管,把晶体管的沟道区和JFET区从上表面和前后侧面用栅电极包裹起来,这样在正向导通时扩展的栅电极使器件沟道区与JFET区都形成多数载流子积累层,从而能明显减小导通电阻,提高输出电流。而且由于折叠式栅对JFET区电荷的控制能力,可以避免JFET区因为缩小尺寸带来的穿通问题,从而促进元胞的电荷共享作用,优化了垂直电场分布,提高了器件的击穿电压。同时JFET区尺寸缩小有利于元胞小型化,提高元胞密度,从而能够获得更大的电流。
申请公布号 CN104009088B 申请公布日期 2017.04.12
申请号 CN201410234390.9 申请日期 2014.05.29
申请人 西安电子科技大学 发明人 段宝兴;袁嵩;杨银堂;郭海君
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 胡乐
主权项 一种N沟道VDMOS器件,包括栅极(1)、栅氧化层、N+源区(2)、P型基区(3)、N‑漂移区(4)、N+衬底(5)、漏极(6),其特征在于:所述栅极(1)以及栅氧化层覆盖至沟道区和JFET区的整体上表面和前后侧面,其中沟道区和JFET区的整体上表面被完全覆盖。
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