发明名称 氧化物烧结体、溅射靶以及氧化物薄膜
摘要 本发明涉及氧化物烧结体、溅射靶以及氧化物薄膜。一种氧化物烧结体,其特征在于,包含锌(Zn)、铟(In)、钛(Ti)、锡(Sn)、镓(Ga)、锗(Ge)和氧(O),Zn含量按ZnO换算为40~80摩尔%,In含量按In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>换算为3~25摩尔%,Ti含量按TiO<sub>2</sub>换算为2~15摩尔%,Sn含量按SnO<sub>2</sub>换算为5~35摩尔%,Ga含量按Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>换算为0.5~10摩尔%,Ge含量按GeO<sub>2</sub>换算为0.5~10摩尔%。根据本发明,体电阻率低且能够进行DC溅射,能够形成具有所期望的折射率、透射率以及优良的化学特性的透明导电膜。
申请公布号 CN105821377B 申请公布日期 2017.03.29
申请号 CN201510561233.3 申请日期 2015.09.06
申请人 吉坤日矿日石金属株式会社 发明人 奈良淳史;关秀人
分类号 C23C14/08(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I 主分类号 C23C14/08(2006.01)I
代理机构 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人 王海川;穆德骏
主权项 一种氧化物烧结体,其特征在于,包含锌(Zn)、铟(In)、钛(Ti)、锡(Sn)、镓(Ga)、锗(Ge)和氧(O),Zn含量按ZnO换算为40~80摩尔%,In含量按In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>换算为3~25摩尔%,Ti含量按TiO<sub>2</sub>换算为2~15摩尔%,Sn含量按SnO<sub>2</sub>换算为5~35摩尔%,Ga含量按Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub>换算为0.5~10摩尔%,Ge含量按GeO<sub>2</sub>换算为0.5~10摩尔%。
地址 日本东京