发明名称 不揮発性記憶装置、半導体素子およびキャパシタ
摘要 【課題】グラフェン導電体を用いた不揮発性記憶装置、半導体素子およびキャパシタを提供する。【解決手段】不揮発性記憶装置100は、第1方向に伸びる第1配線層2と、第1方向に対して交差した第2方向に伸びる第2配線層3と、第1配線層2と第2配線層3の交点の第1配線層2と第2配線層3の間に有する導電層4と、第1配線層中に酸化物、窒化物、酸窒化物の少なくともいずれかを含む抵抗変化領域5を有し、抵抗変化領域5は第1配線層2と導電層との界面を含む第1配線層中に存在する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017054986(A) 申请公布日期 2017.03.16
申请号 JP20150178910 申请日期 2015.09.10
申请人 株式会社東芝 发明人 宮崎 久生;酒井 忠司;山崎 雄一;片桐 雅之
分类号 H01L27/105;H01L27/10;H01L45/00;H01L49/00 主分类号 H01L27/105
代理机构 代理人
主权项
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