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发明名称
不揮発性記憶装置、半導体素子およびキャパシタ
摘要
【課題】グラフェン導電体を用いた不揮発性記憶装置、半導体素子およびキャパシタを提供する。【解決手段】不揮発性記憶装置100は、第1方向に伸びる第1配線層2と、第1方向に対して交差した第2方向に伸びる第2配線層3と、第1配線層2と第2配線層3の交点の第1配線層2と第2配線層3の間に有する導電層4と、第1配線層中に酸化物、窒化物、酸窒化物の少なくともいずれかを含む抵抗変化領域5を有し、抵抗変化領域5は第1配線層2と導電層との界面を含む第1配線層中に存在する。【選択図】図1
申请公布号
JP2017054986(A)
申请公布日期
2017.03.16
申请号
JP20150178910
申请日期
2015.09.10
申请人
株式会社東芝
发明人
宮崎 久生;酒井 忠司;山崎 雄一;片桐 雅之
分类号
H01L27/105;H01L27/10;H01L45/00;H01L49/00
主分类号
H01L27/105
代理机构
代理人
主权项
地址
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