发明名称 化学増幅ポジ型レジスト組成物及びパターン形成方法
摘要 【解決手段】(A)酸の作用によりアルカリ水溶液に可溶となる高分子化合物、(B)光酸発生剤、(C)カルボン酸化合物、並びに(D)(D−1)ベンゾトリアゾール化合物及び/又は(D−2)イミダゾール化合物を含有し、(D−1)ベンゾトリアゾール化合物が式(1)又は(3)で示される化学増幅ポジ型レジスト組成物。【効果】基板上の塗膜の膜厚が5〜250μm、特に10〜150μmと厚い場合のパターン形成の際に、アスペクト比で2以上の解像性を有し、特にCu基板上において、基板近傍の形状に優れ、矩形のパターン形状を得ることができる。【選択図】なし
申请公布号 JP2017032983(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20160139993 申请日期 2016.07.15
申请人 信越化学工業株式会社 发明人 平野 禎典;淺井 聡;竹村 勝也
分类号 G03F7/004;C08F212/14;C08F220/18;G03F7/039;G03F7/20;G03F7/40 主分类号 G03F7/004
代理机构 代理人
主权项
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