| 摘要 |
본 발명은 마스터 시편 검증장치에 관한 것으로, 그 목적은 마스터 시편의 표면에 가공된 흠이 예정된 깊이로 가공되었는지를 검증할 수 있도록 한 마스터 시편 검증장치를 제공함에 있다. 이를 위한 본 발명은 막대 형태로서 그 표면에 흠이 가공된 마스터 시편을 지지하는 다수개의 지지블록; 상기 마스터 시편의 표면으로 직선형태의 빔을 조사하면서 마스터 시편의 표면상에 위치한 각 지점과의 거리정보를 검출하는 센서유닛; 지지대와, 상기 지지대의 상단부에 설치된 Z축 위치조절유닛과, 상기 Z축 위치조절유닛에 설치된 제1브라켓과, 상기 제1브라켓과 회전축을 매개로 결합된 제2브라켓과, 상기 제2브라켓과 함께 움직이도록 설치된 XY축 위치조절유닛과, 상기 XY축 위치조절유닛에 설치되며 센서유닛과 결합되는 제3브라켓으로 이루어진 지지구조체; 상기 센서유닛에서 검출되는 거리정보를 이용하여 마스터 시편의 표면 형상에 대응하는 그래프를 도출하고, 흠의 깊이 정보를 검출하는 프로그램이 내장된 컨트롤러; 및 상기 그래프와 흠의 깊이 정보를 표시하여 주는 디스플레이;를 포함하되, 상기 회전축을 중심으로 한 원호의 구조를 가지며, 중심각의 크기가 90도로 형성된 하나 이상의 가이드 홀이 상기 제1브라켓에 더 형성되고, 상기 가이드 홀을 관통하여 제2브라켓에 체결되는 볼트에 의해 제2브라켓의 회전이 구속되는 것을 특징으로 하는 마스터 시편 검증장치를 제공한다. |
