基于均值滤波的混合场粒径测量方法

摘要

本发明公开了一种基于均值滤波的混合场粒径测量方法，本发明以均值滤波和3σ准则为基础，通过不同模板系数下的粒径计算，得到粒径均值作为最终粒径计算结果，同时对多次计算的结果进行判断，剔除粗大误差，提高测量精度。其效果是为复杂粒子场的测量提供依据，同时得到干涉条纹图均值滤波模板的选取原则，为光学系统中不同尺寸粒子的测量提供实验基础。

主权项

基于均值滤波的混合场粒径测量方法，其特征在于步骤如下：第1、粒子坐标定位与条纹圆获取，利用干涉粒子成像系统，获取干涉条纹图，将干涉条纹图与粒子掩模图像进行相关运算并取峰值，得到并存储条纹圆坐标，根据定位结果，获取粒子干涉条纹圆；第2、设定模板系数，设定均值滤波模板系数初值为1，均值滤波前，该初值自加1，使得首次均值滤波的模板系数为2；第3、图像处理，对干涉条纹图进行均值滤波与边缘提取，该步骤目的在于滤除噪声改善图像质量，获取更清晰的干涉条纹；第4、条纹频率获取与粒径计算，利用傅里叶变换和修正的Rife算法完成干涉条纹频率的精确提取，根据粒径计算公式，计算粒子直径；第5、获得不同模板系数下的计算结果，重复第3步和第4步，每重复一次，模板系数加1，直至模板系数为12，实现模板系数从2到12的粒径计算，存储不同模板系数下的每个粒子的粒径计算结果；第6、计算粒径均值，将第5步得到的粒径计算结果分别取平均，得到不同粒径粒子的计算均值，存储各均值；第7、粗大误差剔除，根据3σ准则，以不同模板系数下的粒径计算结果作为该准则中的每一项，判断粒径计算结果是否存在粗大误差，若存在粗大误差，则该粒子的粒径计算结果被清除，该粒子为不可处理干涉条纹圆，否则，以第6步计算得到的粒径均值作为最终结果输出。