发明名称 |
点云采样方法及系统 |
摘要 |
一种点云采样方法,应用于计算装置中,包括:接收点云网格化文件,并从该点云网格化文件中获取点云的信息;根据所获取的点云的信息计算点云的包围盒,把所述包围盒切分为多个立方体,并从所切分的多个立方体中选取有效立方体;给每个有效立方体中的每个点随机分配一个参考值;根据每个有效立方体中的所有点的参考值分别对每个有效立方体进行采样获取每个有效立方体的初始采样点,将每个有效立方体的初始采样点合并成所述点云的初始采样点;根据所述点云中点的总数及预设采样比例对所述点云的初始采样点进行处理以完成对所述点云的采样。本发明还提供一种点云采样系统。本发明能降低计算复杂度,提高运算效率。 |
申请公布号 |
CN105701861A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201410710164.3 |
申请日期 |
2014.11.28 |
申请人 |
富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人 |
张旨光;吴新元;魏哲睿;谢鹏 |
分类号 |
G06T17/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T17/00(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 |
代理人 |
谢志为 |
主权项 |
一种点云采样方法,应用于计算装置中,其特征在于,该方法包括:获取步骤,接收点云网格化文件,并从该点云网格化文件中获取点云的信息;计算步骤,根据所获取的点云的信息计算点云的包围盒,把所述包围盒切分为多个立方体,并从所切分的多个立方体中选取有效立方体;分配步骤,给每个有效立方体中的每个点随机分配一个参考值;采样步骤一,根据每个有效立方体中的所有点的参考值分别对每个有效立方体进行采样获取每个有效立方体的初始采样点,将每个有效立方体的初始采样点合并成所述点云的初始采样点;及采样步骤二,根据所述点云中点的总数及预设采样比例对所述点云的初始采样点进行处理以完成对所述点云的采样。 |
地址 |
518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋(I段) |