Abschirmvorrichtung, Verfahren zur Durchführung einer aktiven Thermographie-Werkstoffprüfung sowie Verwendung

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Abschirmvorrichtung (1) zur Abschirmung eines Beobachtungsbereichs eines Werkstücks (3) vor einer Sekundäranregungsstrahlung (4) während einer aktiven Thermographie-Werkstoffprüfung mit einer thermischen Anregung des Werkstücks (3) in einem Anregungsbereich mittels einer Primäranregungsstrahlung. Die Abschirmvorrichtung (1) weist ein Abschirmsegment (6) auf zur Positionierung zwischen dem Beobachtungsbereich (2) des Werkstücks (3) und einer Erhebung, wobei das Abschirmsegment (6) eine hohe Transmissivität für die Primäranregungsstrahlung (5) aufweist. Das Abschirmsegment (1) weist keine oder eine geringe Transmissivität für die Sekundäranregungsstrahlung (4) auf. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Durchführung einer aktiven Thermographie-Werkstoffprüfung sowie eine Verwendung.