发明名称 Defect Observation Device and Laser Processing Apparatus having the same
摘要 본 발명의 실시 예에 따른 관찰기 및 이를 구비하는 레이저 처리장치는, 기판을 촬영하는 카메라와, 상기 기판 표면의 이미지를 상기 카메라에 맺히게 하는 이미지 결상계, 및 파장이 다른 복수의 조명광들 중 적어도 하나를 선택하고, 상기 기판을 향하여 조명광을 출사하는 조명계를 포함하고, 조명광의 색을 선택적으로 사용하여 기판 상 결함에 대한 시인성을 개선할 수 있는 관찰기 및 이를 구비하는 레이저 처리장치에 관한 것이다.
申请公布号 KR101606197(B1) 申请公布日期 2016.03.25
申请号 KR20140058822 申请日期 2014.05.16
申请人 참엔지니어링(주) 发明人 김준래;이근행;지영수
分类号 B23K26/70;H01L21/66 主分类号 B23K26/70
代理机构 代理人
主权项
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