发明名称 离子阱质谱仪
摘要 本公开涉及离子阱质谱仪。提供用于测量多个等时离子振荡的频率的静电阱质谱仪的装置41和操作方法。为了改进吞吐量和空间电荷容量,所述阱基本上在一个Z方向上延伸,形成再现的两维场。为阱Z延伸提供了多种几何结构。分析的吞吐量通过对静电阱进行复用来改进。频率分析通过下述方式来加速,即,缩短离子包,并且对镜像电流信号进行小波拟合分析、或者使用用于对每次振荡的离子的小部分进行采样的飞行时间检测器。为了对静电阱中的离子注入进行最优化,建议多个脉冲式转换器。
申请公布号 CN102884608B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201080063985.2 申请日期 2010.11.24
申请人 莱克公司 发明人 A·沃伦奇科夫
分类号 H01J49/48(2006.01)I;H01J49/46(2006.01)I;H01J49/42(2006.01)I 主分类号 H01J49/48(2006.01)I
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人 李镇江
主权项 一种静电阱质谱仪,包括:被无场空间隔开的至少两个平行电极组,其中,所述至少两个平行电极组沿着与X‑Y平面局部正交的弯曲Z方向延伸,以使得所述至少两个平行电极组中的每个限定在X‑Y平面中具有两维静电场的体积,并且限定平面或环面场区;用于调整所述环面场区以提供以下二者以使得稳定离子运动不需要任何轨道运动或侧向运动的部件:(i)在所述X‑Y平面内的所述两维静电场之间通过的离子的稳定捕获、以及(ii)所述X‑Y平面内的等时重复离子振荡;以及所述弯曲Z方向上的离子束缚部件,其被布置为补偿所述静电阱的Z边缘处的飞行时间畸变。
地址 美国密执安州