发明名称 |
一种自动温升测试装置及方法 |
摘要 |
本发明适用于自动化检测领域,提供了一种自动温升测试装置,用于对一电子设备的各个工作模块进行温升测试,其包括微控制器及与微控制器电连接的温度传感器、热成像仪。温度传感器感测当前环境温度。热成像仪在微控制器的控制下每隔一预定时间对各个工作模块的工作温度进行一次测试。微控制器读取温度传感器所感测的当前环境温度,并判断当前环境温度是否是最佳测试温度,若是最佳测试温度,则读取热成像仪的测试数据,并根据测试数据制成各个工作模块的温度变化图。自动温升测试装置不需要人工参与,能自动进行温升测试,方便快捷且测试数据准确。本发明还涉及一种自动温升测试方法。 |
申请公布号 |
CN105187596A |
申请公布日期 |
2015.12.23 |
申请号 |
CN201510659420.5 |
申请日期 |
2015.10.13 |
申请人 |
上海斐讯数据通信技术有限公司 |
发明人 |
孙旺泉 |
分类号 |
H04M1/24(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
H04M1/24(2006.01)I |
代理机构 |
上海硕力知识产权代理事务所 31251 |
代理人 |
郭桂峰 |
主权项 |
一种自动温升测试装置,用于对一个电子设备的各个工作模块进行温升测试,该自动温升测试装置包括一个微控制器及与该微控制器电连接的一个温度传感器、一个热成像仪,该温度传感器用于感测当前环境温度,该热成像仪用于在该微控制器的控制下每隔一预定时间对该各个工作模块的工作温度进行一次测试,该微控制器用于读取该温度传感器所感测的当前环境温度,并判断该当前环境温度是否是最佳测试温度,若该当前环境温度是最佳测试温度,则读取该热成像仪的测试数据,并根据该测试数据制成该各个工作模块的温度变化图。 |
地址 |
201616 上海市松江区思贤路3666号 |