发明名称 |
状态控制信号测试装置 |
摘要 |
本发明提供一种状态控制信号测试装置,该装置用于测试被测单元的状态控制信号功能是否正常,该装置包括主控单元、测试单元、转换单元,其中:主控单元用于向测试单元设置测试值,或从测试单元获取测试值,并与被测单元之间通过消息传递的方式,对比设置或者获取的测试值与被测单元反馈的测试值是否一致,进而输出测试结果;测试单元用于控制转换单元的工作状态,并将主控单元设定的测试值传送给转换单元,或从转换单元获取测试值并存储;转换单元用于将被测单元的待测控制状态信号线转成总线型的接口信号线,并接收或送出被测单元的测试值。本发明测试装置可有效的利用可编程器件的管脚资源,提高生产测试效率。 |
申请公布号 |
CN101222732A |
申请公布日期 |
2008.07.16 |
申请号 |
CN200810000847.4 |
申请日期 |
2008.01.22 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
王红展;张文国 |
分类号 |
H04Q7/34(2006.01);H04M3/22(2006.01) |
主分类号 |
H04Q7/34(2006.01) |
代理机构 |
北京安信方达知识产权代理有限公司 |
代理人 |
龙洪;田红娟 |
主权项 |
1.一种状态控制信号测试装置,该装置用于测试被测单元的状态控制信号功能是否正常,其特征在于,该装置包括主控单元、测试单元、转换单元,其中:主控单元用于向测试单元设置测试值,或从测试单元获取测试值,并与被测单元之间通过消息传递的方式,对比设置或者获取的测试值与被测单元反馈的测试值是否一致,进而输出测试结果;测试单元用于控制转换单元的工作状态,并将主控单元设定的测试值传送给转换单元,或从转换单元获取测试值并存储;转换单元用于将被测单元的待测控制状态信号线转成总线型的接口信号线,并接收或送出被测单元的测试值。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 |