发明名称 一种可实现亚阈值工作的列交错SRAM结构
摘要 本发明公开一种可实现亚阈值工作的列交错SRAM结构,包括锁存型写驱动电路、SRAM存储单元阵列、行译码电路、列译码电路和灵敏放大器和读出电路;所述锁存型写驱动电路与SRAM存储单元阵列和列译码电路连接,SRAM存储单元阵列与行译码电路和灵敏放大器和读出电路连接;SRAM存储单元阵列由若干亚阈值SRAM基本存储单元组成,SRAM存储单元阵列采用列交错的排列方式。本发明通过在写驱动电路中加入锁存部件,能够保证写操作时“半选中”单元即使在亚阈值工作电压下仍然具有很好的稳定性,从而实现了亚阈值SRAM存储阵列的列交错,减小SRAM的软错误率,同时实现灵敏放大器的复用,提高SRAM的面积效率。
申请公布号 CN103137190B 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201310047998.6 申请日期 2013.02.06
申请人 西安交通大学 发明人 赵慧;耿莉
分类号 G11C11/413(2006.01)I 主分类号 G11C11/413(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 蔡和平
主权项 一种可实现亚阈值工作的列交错SRAM结构,其特征在于,包括锁存型写驱动电路(1)、SRAM存储单元阵列(2)、行译码电路(3)、列译码电路(4)和灵敏放大器和读出电路(5);所述锁存型写驱动电路(1)与SRAM存储单元阵列(2)的位线(BL)和位线非(BLB)连接,行译码电路(3)与SRAM存储单元阵列(2)连接,列译码电路(4)与锁存型写驱动电路(1)连接,灵敏放大器和读出电路(5)与SRAM存储单元阵列(2)的读位线(RBL)连接;SRAM存储单元阵列(2)由若干亚阈值SRAM基本存储单元(20)组成,SRAM存储单元阵列(2)采用列交错的排列方式;SRAM存储单元阵列(2)的每一行由M个逻辑字组成,每个逻辑字包括N位亚阈值SRAM基本存储单元(20),其中M和N均为正整数;锁存型写驱动电路(1)包括第一反相器(40)、第二反相器(41)、传输门(42)和M个锁存器;读写使能输入线(WEN)通过第一反相器(40)连接传输门(42)的一个控制端;读写使能输入线(WEN)直接通过传输门(42)的另一个控制端;写入数据输入线(DIN)连接传输门(42)的输入端;每个锁存器均由四个二输入与非门构成,所述四个二输入与非门包括第一与非门(430)、第二与非门(431)、第三与非门(432)和第四与非门(433);第一与非门(430)的输出端连接第三与非门(432)的第一输入端,第三与非门(432)的输出端和第四与非门(433)的第一输入端连接对应亚阈值SRAM基本存储单元的位线,第二与非门(431)的输出端连接第四与非门(433)的第二输入端,第四与非门(433)的输出端和第三与非门(432)的第二输入端连接对应亚阈值SRAM基本存储单元的位线非;传输门(42)的输出端直接连接每个锁存器的第一与非门(430)的第一输入端,传输门(42)的输出端通过第二反相器(41)连接每个锁存器的第二与非门(431)的第二输入端;第一与非门(430)的第二输入端和第二与非门(431)的第一输入端连接列译码电路(4)。
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