| 发明名称 | 用于通过使用多个时分频率来检测电容的方法和设备 | ||
| 摘要 | 在此公开了一种用于检测电容的方法，该方法包括：允许振荡器根据电容检测板所检测的电容来输出多个时分振荡频率；在预定时间周期期间，对所述多个时分振荡频率进行计数；以及，抵消由于噪声而造成的所述振荡频率的增大和减小，以使得计数值在所述预定时间周期期间变得一致。即使施加了外部噪声，因外部噪声而造成的振荡频率的扭曲会被最小化，并且振荡频率仅随电容检测板的电容而变化。因此，可以在检测电容时防止因噪声而造成的误差。 | ||
| 申请公布号 | CN101490566A | 申请公布日期 | 2009.07.22 |
| 申请号 | CN200780027563.8 | 申请日期 | 2007.03.14 |
| 申请人 | 爱迪半导体株式会社 | 发明人 | 李相喆 |
| 分类号 | G01R27/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人 | 周建秋;王凤桐 |
| 主权项 | 1、一种用于检测电容的方法，该方法包括：允许振荡器根据电容检测板所检测的电容来输出多个时分振荡频率；在预定时间周期期间，对所述多个时分振荡频率进行计数；以及抵消由于噪声而造成的所述振荡频率的增大和减小，以使得计数值在所述预定时间周期上变得一致。 | ||
| 地址 | 韩国首尔 | ||