TEMPERING CHAMBER FOR TEMPERING ELECTRONIC COMPONENTS IN PARTICULAR IC'S
摘要
<p>Bei einer Temperierkammer zum Temperieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere IC's, ist innerhalb eines Gehäuses (14) eine Umlaufeinrichtung (15) mit einer Mehrzahl von kreisförmig umlaufenden Tragelementen (18) und zwei auf gegenüberliegenden Seiten der Tragelemente (18) angeordneten Stützeinrichtungen vorgesehen, an denen die Tragelemente (18) derart gelagert sind, dass die Ausrichtung der Tragelemente (18) bei ihrem Umlauf gleich bleibt.</p>
申请公布号
WO2009046885(A1)
申请公布日期
2009.04.16
申请号
WO2008EP08158
申请日期
2008.09.25
申请人
MULTITEST ELEKTRONISCHE SYSTEME GMBH;PICHL, FRANZ;JESERER, GUENTHER;WIESBOECK, ANDREAS;BAUER, ALEXANDER
发明人
PICHL, FRANZ;JESERER, GUENTHER;WIESBOECK, ANDREAS;BAUER, ALEXANDER
