测试入口电路及用于产生测试入口信号之方法

摘要

本发明系关于测试入口电路及用于产生测试入口信号之方法，其包含一经配置以经由一垫接收一测试信号以产生一用于一第一测试模式之第一模式源信号之第一源信号产生器；一经配置以计算该测试信号之启动转变以产生一用于一第二测试模式之第二模式源信号之第二源信号产生器；及一经配置以接收该等第一与第二模式源信号以产生一用于进入该第一测试模式之第一测试模式入口信号与用于进入该第二测试模式之第二测试模式入口信号之入口信号产生器。