| 主权项 |
一种晶片测试装置，用以测试一射频识别标签(RFID tag)晶片，该晶片测试装置包含：一指令产生模组，用以产生一第一测试指令，其中该第一测试指令是随机产生的一乱数；一传送/接收模组，耦接至该指令产生模组，用以控制指令产生模组产生该第一测试指令，并将该第一测试指令传送至该射频识别标签晶片并自该射频识别标签晶片接收一目标测试结果，其中该传送/接收模组还包含一转换单元，用以将该第一测试指令之一讯号格式转换成符合该射频识别标签晶片之一目标讯号格式；以及一控制模组，耦接至该传送/接收模组及该指令产生模组，用以判断该目标测试结果是否符合一参考测试结果，若判断结果为否，该控制模组控制该指令产生模组产生一第二测试指令以重新测试该射频识别标签晶片。
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