发明名称 | 基于idUCf五元结构的过程间静态切片提取方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于idUCf五元结构的过程间静态切片提取方法,包括:对程序中的静态切片按照变量的类型、静态切片的位置进行表达,建立表达式;依据对变量的赋值,在所述表达式中进行倒推式搜索;提取所述变量的值等于所述赋值的所有静态切片。通过本发明可以提高计算机空间和时间的利用率,提高切片提取效率。 | ||
申请公布号 | CN104699599A | 申请公布日期 | 2015.06.10 |
申请号 | CN201310666216.7 | 申请日期 | 2013.12.10 |
申请人 | 上海精密计量测试研究所 | 发明人 | 龚丹丹;陈春萍;蒋坚鸿 |
分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人 | 金家山 |
主权项 | 一种基于idUCf五元结构的过程间静态切片提取方法,其特征在于, 包括:对程序中的静态切片按照变量的类型、静态切片的位置进行表达,建立表达式;依据对变量的赋值,在所述表达式中进行倒推式搜索;提取所述变量的值等于所述赋值的所有静态切片。 | ||
地址 | 201109 上海市闵行区元江路3888号 |