发明名称 基于正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法
摘要 本发明公开了一种基于全量程正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统和方法。本发明基于谱域干涉仪布局,通过参考臂中设置的快速位移装置在多幅干涉光谱之间引入位相差,并利用实际检定的相位差来重建复干涉信号,基于复干涉信号的逆傅里叶变换获取高保真样品信息。在探测臂上使用基于虚像相控阵列和光栅的超高光谱分辨率的正交分光光谱仪进行探测,大幅提高测量量程。采用优化多通道光谱位相的光程测量方法,显著提高测量精度,并避免单通道测量可能导致的误差放大,实现快速高精度大量程的间距测量。
申请公布号 CN104655032A 申请公布日期 2015.05.27
申请号 CN201510063182.1 申请日期 2015.02.06
申请人 浙江大学 发明人 丁志华;鲍文;沈毅;陈志彦;赵晨;李鹏
分类号 G01B11/14(2006.01)I 主分类号 G01B11/14(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 杜军
主权项  基于正交色散谱域干涉仪的高精度间距测量系统,包括宽带光源、光环行器、宽带光纤耦合器、样品臂、参考臂和探测臂;其特征在于:所述的样品臂包括第一光纤准直透镜、第一聚焦透镜、平面反射镜和快速位移装置;所述的参考臂包括第二光纤准直透镜、第二聚焦透镜和样品;所述的探测臂包括第三光纤准直透镜、柱面聚焦透镜、虚像相控阵列、光栅、第三聚焦透镜、面阵CCD或面阵CMOS ;宽带光源出来的低相干光,经光环行器到宽带光纤耦合器,其中一路光进入参考臂,另一路进入样品臂;进入参考臂部分:经宽带光纤耦合器分光后的光经第一光纤准直透镜后,经第一聚焦透镜照射到固定在快速位移装置上的平面反射镜,从平面反射镜反射回来的光经由原路返回至宽带光纤耦合器;进入样品臂部分:经宽带光纤耦合器分光后的光经第二光纤准直透镜入射到第二聚焦透镜后照射到样品,从样品反射回来的光经由原路返回至宽带光纤耦合器;从样品臂和参考臂返回的两路光在宽带光纤耦合器中干涉后形成干涉光,经光环行器进入探测臂,由探测臂将干涉光分解为干涉光谱信号并探测;进入探测臂部分:干涉光经第三光纤准直透镜,入射到柱面聚焦透镜,出射光汇聚到虚像相控阵列前表面的入射窗,从虚像相控阵列的后表面出射,进行空间域上的第一级分光,再入射到光栅,在正交空间方向上进行第二级分光,经第三聚焦透镜成像,采用面阵CCD或面阵CMOS进行探测;最后这些光谱信号转变为电信号传入计算机,并在计算机中实施傅立叶变换等算法处理重建样品图像。
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