发明名称 一种干净无损转移有机半导体薄膜的新方法
摘要 本发明公开了一种转移有机半导体薄膜的方法,其具体步骤如下:利用干净的去离子水与疏水性界面上的有机半导体薄膜形成固-液界面,置于冷冻室水结成冰后,形成冰与薄膜的固-固界面,将冰与薄膜从疏水性界面分离并转移至其他疏水或亲水的界面基底,最后置于冷冻干燥机将冰升华后除去,实现有机半导体薄膜的干净无损转移。本发明提供的一种转移有机半导体薄膜的新方法,可替代传统以高分子为介质转移有机半导体薄膜的方法,低价环保,易于实验操作。
申请公布号 CN104600219A 申请公布日期 2015.05.06
申请号 CN201410797710.1 申请日期 2014.12.19
申请人 合肥工业大学 发明人 邱龙臻;王庆贺;朱闵;庞博
分类号 H01L51/56(2006.01)I;H01L51/48(2006.01)I;H01L51/40(2006.01)I 主分类号 H01L51/56(2006.01)I
代理机构 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人 余成俊
主权项  一种干净无损转移有机半导体薄膜的新方法,其特征在于:其具体步骤如下:利用干净的去离子水与疏水性界面上的有机半导体薄膜形成固‑液界面,置于冷冻室水结成冰后,形成冰与薄膜的固‑固界面,将冰与薄膜从疏水性界面分离并转移至其他疏水或亲水的界面基底,最后置于冷冻干燥机将冰升华后除去,实现有机半导体薄膜的干净无损转移。
地址 230009 安徽省合肥市合肥工业大学屯溪路校区193号