发明名称 |
一种干净无损转移有机半导体薄膜的新方法 |
摘要 |
本发明公开了一种转移有机半导体薄膜的方法,其具体步骤如下:利用干净的去离子水与疏水性界面上的有机半导体薄膜形成固-液界面,置于冷冻室水结成冰后,形成冰与薄膜的固-固界面,将冰与薄膜从疏水性界面分离并转移至其他疏水或亲水的界面基底,最后置于冷冻干燥机将冰升华后除去,实现有机半导体薄膜的干净无损转移。本发明提供的一种转移有机半导体薄膜的新方法,可替代传统以高分子为介质转移有机半导体薄膜的方法,低价环保,易于实验操作。 |
申请公布号 |
CN104600219A |
申请公布日期 |
2015.05.06 |
申请号 |
CN201410797710.1 |
申请日期 |
2014.12.19 |
申请人 |
合肥工业大学 |
发明人 |
邱龙臻;王庆贺;朱闵;庞博 |
分类号 |
H01L51/56(2006.01)I;H01L51/48(2006.01)I;H01L51/40(2006.01)I |
主分类号 |
H01L51/56(2006.01)I |
代理机构 |
安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 |
代理人 |
余成俊 |
主权项 |
一种干净无损转移有机半导体薄膜的新方法,其特征在于:其具体步骤如下:利用干净的去离子水与疏水性界面上的有机半导体薄膜形成固‑液界面,置于冷冻室水结成冰后,形成冰与薄膜的固‑固界面,将冰与薄膜从疏水性界面分离并转移至其他疏水或亲水的界面基底,最后置于冷冻干燥机将冰升华后除去,实现有机半导体薄膜的干净无损转移。 |
地址 |
230009 安徽省合肥市合肥工业大学屯溪路校区193号 |