测试装置

摘要

本发明提出一种测试装置，用于测试一待测芯片元件，该测试装置包含一系统电路板、一第一芯片元件、一支撑结构、一电路板及一插入件。系统电路板具有一侧面，而第一芯片元件设置于系统电路板的侧面上，并与系统电路板相电性连接；支撑结构设置于系统电路板的侧面上，且至少环绕第一芯片元件；电路板固定于支撑结构上，且与第一芯片元件相分隔；电路板具有一连接器，用以连接待测芯片元件；插入件位于电路板与第一芯片元件之间，使得电路板通过插入件来电性连接第一芯片元件。借此，第一芯片元件不需与待测芯片元件相插接，故第一芯片元件较不易因为频繁的测试而损坏。

主权项

一种测试装置，用于测试一待测芯片元件，该测试装置包含：一系统电路板，具有一侧面；一第一芯片元件，设置于该系统电路板的该侧面上，并与该系统电路板电性连接；一支撑结构，设置于该系统电路板的该侧面上，且至少环绕该第一芯片元件；一电路板，固定于该支撑结构上，且与该第一芯片元件相分隔，该电路板具有一连接器，用以连接该待测芯片元件；以及一插入件(interposer)，位于该电路板与该第一芯片元件之间，而该电路板通过该插入件来电性连接该第一芯片元件。