| 摘要 |
1. Способ получения характеристик областей в исследуемом объекте, в котором обеспечена возможность расположения рассеивающего материала с низким значением Z и материала с высоким значением Z вдоль одной линии зрения, включающий:a. сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, испускаемым источником, характеризуемым распределением энергий,b. регистрацию проникающего излучения, рассеянного исследуемым объектом, путем создания сигнала первого датчика, различающего материалы с высоким и низким эффективным атомным числом при первом наборе условий относительно распределения энергий проникающего излучения,c. регистрацию проникающего излучения, рассеянного исследуемым объектом, путем создания сигнала второго датчика, различающего материалы с высоким и низким эффективным атомным числом при втором наборе условий по отношению к распределению энергий проникающего излучения,d. создание разностного изображения на основании функции сигналов первого и второго датчиков, ие. определение расположения материалов с низким значением Z и высоким значением Z по одной линии зрения относительно источника на основании по меньшей мере созданного разностного изображения.2. Способ по п.1, согласно которому сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, характеризуемым распределением энергий, включает последовательное сканирование исследуемого объекта проникающим излучением, характеризуемым первым и вторым распределениями энергий.3. Способ по п.1 или 2, дополнительно включающий этап определения относительного расположения области с низким значением Z и области с высоким значением Z в исследуемом об� |
