发明名称 |
一种提升非易失存储使用寿命的掉电数据保存恢复算法 |
摘要 |
本发明公开了一种掉电数据保存恢复算法。这种算法应用于包含微处理器和非易失存储器件的系统。其中非易失存储用于在系统意外掉电时,保存微处理器内易失存储中保存的关键现场数据;在下一次上电时,恢复现场,继续执行程序。根据非易失存储器擦除时块大小划分存储区,并按照关键现场数据量大小将每个存储区拆分为若干个相同容量的存储数据段和一个存储信息段。掉电时,系统迅速在一个存储段内保存恢复信息和关键现场数据。上电时,解析存储信息段内容,确定上次保存数据的存储数据段,恢复现场数据,并在必要的情况下擦除存储区。按照该算法可均衡存储器写入负载,避免每次启动时进行擦除,有效延长存储器使用寿命。 |
申请公布号 |
CN104317671A |
申请公布日期 |
2015.01.28 |
申请号 |
CN201410574614.0 |
申请日期 |
2014.10.24 |
申请人 |
杭州帅锐电子科技有限公司 |
发明人 |
张文华 |
分类号 |
G06F11/14(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/14(2006.01)I |
代理机构 |
杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 |
代理人 |
吴秉中 |
主权项 |
一种提升非易失存储使用寿命的掉电数据保存恢复算法,其特征在于:将用于保存掉电现场数据的非易失存储器按照擦除块大小分为存储区,并进一步将每个存储区按照需要保存的掉电现场数据量分割为若干个数据段和一个信息段进行管理。 |
地址 |
311113 浙江省杭州市余杭区姚家路5号蓝都科创园1号楼二楼 |