发明名称 半导体装置;SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 〔课题〕提供防止水分侵入至内部电路的半导体装置。〔解决手段〕利用形成于接合垫下层的下垫多晶矽膜(10)、隔着层间绝缘膜(21)而设置于其上方的接合垫(1)、以包含其外侧之方式配置的外围配线(3)、连续衔接外围配线(3)与下垫多晶矽膜(10)的外围接点来进行连接,遮断从接合垫往内部电路的水分。
申请公布号 TW201448150 申请公布日期 2014.12.16
申请号 TW103102115 申请日期 2014.01.21
申请人 精工电子有限公司 发明人 上村启介;小山内润
分类号 H01L23/488(2006.01);H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L23/488(2006.01)
代理机构 代理人 <name>林志刚</name>
主权项
地址 日本