发明名称 | 半导体装置;SEMICONDUCTOR DEVICE | ||
摘要 | 〔课题〕提供防止水分侵入至内部电路的半导体装置。〔解决手段〕利用形成于接合垫下层的下垫多晶矽膜(10)、隔着层间绝缘膜(21)而设置于其上方的接合垫(1)、以包含其外侧之方式配置的外围配线(3)、连续衔接外围配线(3)与下垫多晶矽膜(10)的外围接点来进行连接,遮断从接合垫往内部电路的水分。 | ||
申请公布号 | TW201448150 | 申请公布日期 | 2014.12.16 |
申请号 | TW103102115 | 申请日期 | 2014.01.21 |
申请人 | 精工电子有限公司 | 发明人 | 上村启介;小山内润 |
分类号 | H01L23/488(2006.01);H01L21/60(2006.01) | 主分类号 | H01L23/488(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | <name>林志刚</name> | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |