发明名称 高通量STR序列核心重复数检测方法
摘要 本发明提供了一种高效快捷的高通量STR序列核心重复数检测的方法,包括首先在已扩增到检测基片的STR序列簇上杂交一对检测引物,其中终引物上修饰荧光基团;随后利用核苷酸组合进行分步延伸,同时在每轮延伸后检测荧光信号,直至终引物上带荧光的碱基被聚合酶切除,信号消失为止;最终分析荧光信号的情况,得到相应的STR序列核心重复数。本发明采用通用的生物化学试剂,广泛适用于生物芯片及高通量测序等检测平台,且信噪比很高,明显提高了STR检测的准确性和对杂合STR的分辨率,同时其高通量特性使得该方法可以通过检测更多STR基因座得到更加确信的结果以及检测更多样本实现快速的群体STR检测。
申请公布号 CN104152568A 申请公布日期 2014.11.19
申请号 CN201410410187.2 申请日期 2014.08.19
申请人 东南大学 发明人 李俊吉;陆祖宏;涂景
分类号 C12Q1/68(2006.01)I 主分类号 C12Q1/68(2006.01)I
代理机构 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人 柏尚春
主权项 一种高通量STR序列核心重复数检测方法,其特征在于,包括以下步骤:A.将一对引物杂交到待测STR序列上,其中下游引物带荧光标记;B.重复交替地加入核苷酸单体组合,利用具有5’→3’外切酶活性的DNA聚合酶合成待测STR序列的互补链,每次加入核苷酸单体组合完成聚合反应后进行清洗,检测荧光强度;C.分析荧光信号的变化及信号变化发生的轮次,判断STR序列的杂合情况并计算出核心重复数。
地址 210096 江苏省南京市四牌楼2号
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