发明名称 一种多电阻测试装置
摘要 一种多电阻测试装置,设置有水平载料台、纵向支架、检测单元、滑动导轨和纵向驱动机构;水平载料台与纵向支架呈垂直设置,所述测单元设置于水平载料台上方,滑动导轨一端固定于水平载料台,且滑动导轨穿设于检测单元并活动装配于检测单元,纵向驱动机构固定于纵向支架,纵向驱动机构驱动所述测单元纵向移动;检测单元设置有基板以及装配于基板的多个探针,探针露出所述基板的一端用于与待测基板电阻接触,探针露出所述基板的另一端与检测电路的输入端连接。该多电阻测试装置可以通过探针一次检测多组电阻,不仅结构简单,而且具有检测方便、检测效率高、结果精确的特点。
申请公布号 CN203894330U 申请公布日期 2014.10.22
申请号 CN201420325525.8 申请日期 2014.06.18
申请人 珠海市华晶微电子有限公司 发明人 高文志;洪学毅;王雅青;颜达远
分类号 G01R27/02(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人 赵蕊红
主权项 一种多电阻测试装置,其特征在于:设置有水平载料台、纵向支架、检测单元、滑动导轨和纵向驱动机构;所述水平载料台与所述纵向支架呈垂直设置,所述检测单元设置于所述水平载料台上方,所述滑动导轨一端固定于所述水平载料台,且所述滑动导轨穿设于所述检测单元并活动装配于所述检测单元,所述纵向驱动机构固定于所述纵向支架,所述纵向驱动机构驱动所述检测单元纵向移动;所述检测单元设置有基板以及装配于基板的多个探针,所述探针固定装配于所述基板,所述探针露出所述基板的一端用于与待测基板上的电阻接触,所述探针露出所述基板的另一端与检测电路的输入端连接。
地址 519015 广东省珠海市南山工业区十二栋一至五层珠海市华晶微电子有限公司