发明名称 |
脉冲气流法生长GaP电流扩展层的方法 |
摘要 |
本发明公开一种脉冲气流法生长GaP电流扩展层的方法,在生长GaP电流扩展层时,向金属有机化学气相沉积系统的反应室中,脉冲式交替通入含有镓原子的MO源、磷烷和掺杂源,或者保持磷烷的流量不变,脉冲式通入含镓的MO源和掺杂源。该方法可以增加镓原子和磷原子在外延层表面的迁移时间,使其充分覆盖外延层表面,从而得到高质量的GaP电流扩展层。 |
申请公布号 |
CN102593274B |
申请公布日期 |
2014.07.30 |
申请号 |
CN201110132001.8 |
申请日期 |
2011.05.20 |
申请人 |
厦门乾照光电股份有限公司 |
发明人 |
陈凯轩;张银桥;蔡建九;张永;林志伟;单智发;张双翔;占荣;王向武 |
分类号 |
H01L33/00(2010.01)I;C30B25/02(2006.01)I;C30B29/44(2006.01)I |
主分类号 |
H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 |
厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 |
代理人 |
李宁;唐绍烈 |
主权项 |
一种脉冲气流法生长GaP电流扩展层的方法,其特征在于:在生长GaP电流扩展层时,向金属有机化学气相沉积系统的反应室中,脉冲式通入含有镓原子的MO源、磷烷和掺杂源,或者保持磷烷的流量不变,脉冲式通入含镓的MO源和掺杂源,通入金属有机化学气相沉积系统反应室的MO源、磷烷或掺杂源脉冲的持续时间为0.1s ‑ 10s,时间间隔为0.1s ‑ 10s,GaP电流扩展层的生长温度为500℃‑ 1000℃,生长压力为10mbar ‑ 500mbar,掺杂材料为Mg、Zn、C、Te、Si。 |
地址 |
361000 福建省厦门市火炬(翔安)产业区翔岳路19号 |