发明名称 |
Halbleitervorrichtung und Verfahren zum Herstellen derselben |
摘要 |
Gemäß einem Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung werden Hartmaskenlinien (105) parallel in einem Substrat (100) gebildet und das Substrat (100) zwischen den Hartmaskenlinien (105) wird geätzt, um Rinnen (107) zu bilden. Ein Abschnitt der Hartmaskenlinie (105) und ein Abschnitt des Substrats (100) zwischen den Rinnen (107) werden geätzt. Eine obere Oberfläche des geätzten Abschnitts des Substrats (100) zwischen den Rinnen (107) ist höher als eine Bodenoberfläche der Rinne (107). Eine leitfähige Schicht (115) wird gebildet, um die Rinnen (107) zu füllen. Die leitfähige Schicht (115) wird geätzt, um jeweils leitfähige Muster (GE) in den Rinnen (107) zu bilden. |
申请公布号 |
DE102014100744(A1) |
申请公布日期 |
2014.07.24 |
申请号 |
DE201410100744 |
申请日期 |
2014.01.23 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD. |
发明人 |
KIM, DAEIK;KIM, JIYOUNG;PARK, JEMIN;SON, NAKJIN;HWANG, YOOSANG |
分类号 |
H01L21/28;H01L21/308;H01L21/768;H01L21/8242;H01L27/108;H01L29/423 |
主分类号 |
H01L21/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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